Oprogramowanie do pomiarów wizyjnych 2D z filtrami skali szarości i kolorów do wykrywania krawędzi

Seria oprogramowania do pomiaru 2D Rational Vue zapewnia uniwersalne i wydajne możliwości pomiaru obrazu 2D. Wspiera podstawowe pomiary elementów, w tym punkty, linie, kąty, koła,i odległościDzięki doskonałej kontroli ruchu dla maszyn zautomatyzowanych, zaawansowanym funkcjom wykrywania krawędzi i łatwemu programowaniu RationalVue zapewnia wysoką wydajność pomiarową dla zastosowań masowej produkcji.Idealne do telefonów komórkowych, tworzyw sztucznych, elektroniki i innych gałęzi przemysłu wymagających masowej produkcji i kontroli jakości.

Zaawansowane możliwości kalibracji, w tym kalibracja skali długości-szerokości CCD, kalibracja automatycznie obracająca się/horyzontalna CCD, kalibracja koaksjalna soczewek CCD i kalibracja pikseli CCD.Wielokrotne metody kalibracji zwiększają dokładność pomiaruKalibracja zniekształceń soczewek znacznie zwiększa precyzję dla dużych soczewek szerokokątnych.

Zaawansowane filtrowanie usuwa grzyby i niedoskonałości z mierzonych produktów, eliminując wypukłe lub zagłębione obszary w celu zapewnienia kompletnych i dokładnych pomiarów.

Łatwo uchwyci rozmyte i szorstkie krawędzie, umożliwiając prawdziwą automatyzację możliwości pomiarowych.

Ustawić określone kolory pomiarowe, usuwając zakłócenia innych kolorów w celu dokładnego pomiaru.

Wyeliminowanie efektów wyświetlenia krawędzi białymi i filtrowanie niemierzonych krawędzi w celu zapewnienia, że słabsze krawędzie nie są dotknięte przez jaśniejsze krawędzie.

Zaawansowane możliwości przetwarzania krawędzi dla różnych wymagających scenariuszy pomiarowych.

Kompleksowe możliwości pomiarowe, w tym punkty, linie, koła, łuki, elipsy, szczeliny, prostokąty, skanowanie krzywych, obwód i analizę obszaru błędu.Zawiera porównanie formy z nominalnymi krzywymi CAD.

Zaawansowany algorytm słabych krawędzi umożliwia pomiar linii słabych krawędzi bez specjalnych ustawień.

Zaawansowany algorytm ostrości kończy ostrość części w 2-3 sekundy z dokładnością ostrości powtarzania 0,003 mm. Nadaje się do pomiarów tolerancji, w tym wysokości i płaskości.

Automatycznie śledzi krawędzie produktu w celu skanowania profili krzywych. Porównuje z importowanymi krzywymi nominalnymi CAD, oblicza błędy profilu i wydaje graficzne raporty FormError.

Profesjonalne narzędzia pomiarowe zaprojektowane specjalnie dla płyt sieciowych, umożliwiające łatwe pomiary linii sieciowych.

Jednopętrowe wielopoziomowe pomiary linii z możliwością wyboru linii przez użytkownika dla złożonych scenariuszy pomiarów.

Międzynarodowy zaawansowany algorytm podpixelów znacznie zwiększa dokładność pomiarów i powtarzalność.

Optymalizuje ścieżki pomiarowe do możliwie najkrótszych tras, maksymalizując efektywność pomiarów i zmniejszając koszty operacyjne.